紫外熒光硫分析儀采用“紫外熒光法”測定原理。當樣品被引入高溫裂解爐后，經氧化裂解，其中的硫定量地轉化為二氧化硫，反應氣經干燥脫水后進入熒光室。在熒光室中，部分二氧化硫受紫外光照后轉化為激發態的二氧化硫（SO2*），當SO2*躍遷到基態時發射出光子，光電子信號由光電倍增管接收放大。再經放大器放大，計算機數據處理，即可以轉換為光強度成正比的電信號。在一定條件下反應中產生的熒光強度SO2*與二氧化硫的生成量成正比，二氧化硫的量又與樣品中的總硫含量成正比，故可以通過測定熒光強度來測定樣品中的總硫含量。分析樣品前，需要先用標樣校正曲線，在相同條件下再分析樣品，程序自動依據標樣校正曲線計算出樣品的硫含量。

　　

　　熒光硫分析儀都有其特定的能級結構，其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，我們說原子被激發了，其他的外層電子便會填補這一空位，也就是所謂躍遷，同時以發出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的。熒光硫分析儀以微電流放大、計算機數據處理，即可轉換為與光強度成正比的電信號。此化學發光的強度與NO成正比，而NO的生成量又與樣品中的總氮含量成正比，故可以通過測定化學發光的強度來測定樣品中的的總含量。